紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)出現(xiàn)以下問(wèn)題要如何處理
紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)是分析測(cè)試實(shí)驗(yàn)室里常見(jiàn)的一種分析儀器，屬于光學(xué)儀器的一種，可廣泛應(yīng)用于醫(yī)療衛(wèi)生、化學(xué)化工、環(huán)保、地質(zhì)、機(jī)械、冶金、石油、食品、生物、材料、計(jì)量科學(xué)、農(nóng)業(yè)、林業(yè)、漁業(yè)等領(lǐng)域中的科研、教學(xué)等各個(gè)方面，用來(lái)進(jìn)行定性分析、純度檢查、結(jié)構(gòu)分析、絡(luò)合物組成及穩(wěn)定常數(shù)的測(cè)定、反應(yīng)動(dòng)力學(xué)研究等。
紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)出現(xiàn)以下問(wèn)題要如何處理：
1、儀器電源接通后，光源不亮。
原因：
?、俟庠礋襞菀褤p壞。
?、诒ｋU(xiǎn)管燒壞。
處理方法：
①更換氘燈或鎢燈。
?、诟鼡Q保險(xiǎn)管。
2、紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)噪音較大。
原因：光源燈泡使用時(shí)間超過(guò)壽命期。
處理方法：更換光源燈泡。
3、自檢時(shí)提示波長(zhǎng)自檢出錯(cuò)。
原因：自檢過(guò)程中可能打開(kāi)過(guò)儀器樣品室的蓋子。
處理方法：關(guān)上儀器樣品室蓋子，重新自檢。
4、儀器自檢時(shí)提示通訊錯(cuò)誤。
原因：儀器與電腦之間的數(shù)據(jù)線沒(méi)有連接好。
處理方法：連接好數(shù)據(jù)線，重新打開(kāi)儀器和軟件，重新自檢。
5、儀器零點(diǎn)飄忽不定，主要反映在簡(jiǎn)易儀器上。
原因：在簡(jiǎn)易儀器中，零點(diǎn)往往是通過(guò)電位器來(lái)調(diào)整，這種電位器一般是炭膜電阻制作的，使用久了往往造成接觸不良。
處理方法：更換電位器。
6、在使用過(guò)程中，出現(xiàn)數(shù)字顯示不能歸零，同時(shí)伴有圖線記錄基線位置偏高。
原因：
?、俟怆姳对龅壤匣?，性能降低。
?、谛盘?hào)處理板可能發(fā)生故障。
?、矍爸梅糯蟀娉霈F(xiàn)故障，引起反饋量增大。
處理方法：
①開(kāi)機(jī)通電，先做記錄故障曲線，再與原始記錄的標(biāo)準(zhǔn)曲線對(duì)照，找出異同點(diǎn)，并作一下定性定能分析。然后用一只同型號(hào)規(guī)格的新光電倍增管替換機(jī)上的光電管，再開(kāi)機(jī)實(shí)驗(yàn)，結(jié)果記錄出來(lái)的圖線并沒(méi)有什么變化，由此證明光電倍增管沒(méi)有老化變質(zhì)。
?、谶M(jìn)一步檢查信號(hào)處理板，未發(fā)現(xiàn)信號(hào)處理板各元器件損壞，對(duì)影響靈敏度有關(guān)的電位器檢測(cè)，結(jié)果測(cè)得數(shù)據(jù)正常，這說(shuō)明信號(hào)處理板*。
7、測(cè)試過(guò)程中提示能量太低。
原因：
①光源燈泡使用時(shí)間超過(guò)壽命期。
②樣池中有不透光的東西擋住了光。
處理方法：
?、俑鼡Q光源燈。
?、谀米邠豕獾奈锲?。
8、吸光值結(jié)果出現(xiàn)負(fù)值。
原因：沒(méi)做空白記憶、樣品的吸光值小于空白參比液。
處理方法：做空白記憶、調(diào)換參比液或用參比液配置樣品溶液。
9、當(dāng)儀器波長(zhǎng)固定在某個(gè)波長(zhǎng)下時(shí)，吸光值信號(hào)上下擺動(dòng)，特別是測(cè)量模式轉(zhuǎn)換為按鍵開(kāi)關(guān)式的簡(jiǎn)易儀器。
原因：開(kāi)關(guān)觸點(diǎn)因長(zhǎng)期氧化所致造成接觸不良。
處理方法：用金屬活化劑清洗按鍵觸點(diǎn)即可。
10、樣品信號(hào)重現(xiàn)性不良
原因：排除儀器本身的原因外，較大的可能是樣品溶液不均勻所致，在簡(jiǎn)易的單光束儀器中，樣品池架一般為推拉式的，有時(shí)重復(fù)推拉不在同一個(gè)位置上。
處理方法：
?、俨扇≌_的試樣配置手段。
②修理推拉式樣品架的定位碰珠。
文章內(nèi)容來(lái)源網(wǎng)絡(luò)，轉(zhuǎn)載僅為分享知識(shí)，如有侵權(quán)請(qǐng)聯(lián)系刪除。
會(huì)員_a.png)